Analisador de espessura de revestimento e materiais Microspot XRF para um rápido controle de qualidade e testes de validação, facilitando a obtenção dos resultados certos em segundos.
A análise da espessura do revestimento e dos materiais com base na fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica amplamente aceita e comprovada pela indústria, oferecendo análises fáceis de usar, rápidas e não destrutivas, exigindo pouca ou nenhuma preparação de amostra, capaz de analisar sólidos ou líquidos em uma ampla faixa de elementos de 13 Al a 92 U na tabela periódica.
- Contador proporcional ou SDD de alta resolução
- Faixa de elementos: Ti – U ou Al – U (SDD)
- Projeto da câmara: com fenda
- Opções de estágio XY: base fixa, poço profundo, motorizada
- Maior amostra: 270 x 500 x 150 mm
- Número máximo de colimadores: 6
- Filtros: 1
- Menor colimador: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x 10 mil)
- Software SmartLink