Analisador de espessura de revestimento e materiais Microspot XRF para um rápido controle de qualidade e testes de validação, facilitando a obtenção dos resultados certos em segundos.
A análise da espessura do revestimento e dos materiais com base na fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica amplamente aceita e comprovada pela indústria, oferecendo análises fáceis de usar, rápidas e não destrutivas, exigindo pouca ou nenhuma preparação de amostra, capaz de analisar sólidos ou líquidos em uma ampla faixa de elementos de ¹³ Al a ⁹² U na tabela periódica.

• Contador proporcional ou SDD de alta resolução
• Faixa de elementos: Ti – U ou Al – U (SDD)
• Projeto da câmara: com fenda
• Opções de estágio XY: base fixa, poço profundo, motorizada
• Maior amostra: 270 x 500 x 150 mm
• Número máximo de colimadores: 6
• Filtros: 1
• Menor colimador: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x 10 mil)
• Software SmartLink