Labcontrol

Hitachi Coatings

Analisador XRF de bancada FT230

O novo FT230 foi projetado para permitir que o controle de qualidade atenda as altas demandas e velocidades de produção, simplificando significativamente os testes de componentes e montagens. Desta forma, os obstáculos tradicionais da análise de XRF são eliminados.
O FT230 é uma poderosa ferramenta para os fabricantes de componentes eletrônicos ou empresas de tratamento de superfície que necessitam atender às mais rigorosas especificações do mercado.

Analisador XRF de Microspot de Bancada X-STRATA 920

Analisador de espessura de revestimento e materiais Microspot XRF para um rápido controle de qualidade e testes de validação, facilitando a obtenção dos resultados certos em segundos.
A análise da espessura do revestimento e dos materiais com base na fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica amplamente aceita e comprovada pela indústria, oferecendo análises fáceis de usar, rápidas e não destrutivas, exigindo pouca ou nenhuma preparação de amostra, capaz de analisar sólidos ou líquidos em uma ampla faixa de elementos de 13 Al a 92 U na tabela periódica.

    Contador proporcional ou SDD de alta resolução
    Faixa de elementos: Ti – U ou Al – U (SDD)
    Projeto da câmara: com fenda
    Opções de estágio XY: base fixa, poço profundo, motorizada
    Maior amostra: 270 x 500 x 150 mn
    Número máximo de colimadores: 6
    Filtros: 1
    Menor colimador: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x 10 mil)
    Software SmartLink

Medidor portátil de espessura de revestimento CMI 243

O CMl243® é uma ferramenta essencial para qualquer metal finalizador. Tem um sistema flexível e fácil de usar, design com a sonda ECP-m que usa tecnologia de corrente parasita sensível à fase.
Com o CMI243® usando a sonda ECP-m, é possível medir com precisão os revestimentos metálicos sobre substratos ferrosos -mesmo em superfícies pequenas, de formato estranho ou ásperas.Este medidor é ideal para uso em fixadores e transporte componentes, apresentando controles amigáveis ​​e desempenho que é comparável aos instrumentos de fluorescência de raios-X (XRF).
Para valor agregado, o CMI243® pode ser expandido com um magnético sonda de indução para medir tinta e outros revestimentos em substratos magnéticos.

 

Medidor portátil de espessura de revestimento CMI 511

O CMI511® possui um recurso exclusivo de compensação de temperatura para medição de espessura em processo para reduzir desperdícios e custos retrabalho. Sua correção automática de temperatura o torna altamente preciso mesmo para medições em placas que acabaram de ser levantado do tanque de galvanização.

Medidor portátil de espessura de revestimento CMI 563

Tecnologia de microresistência para precisa medição de cobre de superfície
O CMI563® fornece tecnologia avançada para medição no revestimento de cobre e garante que o lado oposto do PCB não irá interferir nas leituras, independentemente do laminado espessura.
Nosso CMI563® torna simples obter superfície precisa medição de cobre em cobre laminado, não eletrolítico ou eletrolítico.
Este medidor é ideal para:
• Fabricação e montagem de PCBs
• Espessura da superfície do cobre
Nosso CMI563® oferece desempenho superior para folha de cobre medição em flexível ou rígida, simples, dupla face ou placas multicamadas.